Preview

The Herald of the Siberian State University of Telecommunications and Information Science

Advanced search

Влияние ионного заряда диэлектрика на его электронную проводимость в многослойной структуре с неоднородной блокирующей границей.

Abstract

Представлены результаты исследований влияния положительного подвижного заряда на электронную проводимость окисла на поликристаллическом кремнии.

About the Author

Г. Перов
СибГУТИ
Russian Federation


References

1. Han Sheng Lee. High electric feild generaited electron traps in oxide grown from policristalline silicon// Appl.Phys.Lett.-1980.-v.37. №12.-p.1080-1082.

2. Groesneken G., Maes H.E. A quantation model for the conductionnin oxides thermally grown policristalline silicon// IEEE Trans.on El. Dev.-1986.-v.ED-33, №.7-p.1028-1042.

3. Сальман Е.Г., Вертопрахов В.Н., Данилович. В.С. Изучение процессов образования и переноса заряда в слоях двуокиси кремния на кремнии. / ЦИОНТ ПИК.-Деп. В ВИНИТИ.: №558-76.-Новосибирск, 1975.-с.21.

4. Salman E.G.,Vertoprachov V.N. Thermally stimulated depolarisation current cjntrolled by surface charge change // Phys.Stat.Sol (a).-1988.-v.1008. №2.-p.625-630


Review

For citations:


  . The Herald of the Siberian State University of Telecommunications and Information Science. 2008;(1):31-33. (In Russ.)

Views: 122


Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1998-6920 (Print)