Для цитирования:

Шубин В.В. Отказы интегральных схем, вызванные воздействием эффектов электромиграции и антенны. Вестник СибГУТИ. 2024;18(3):57-72. https://doi.org/10.55648/1998-6920-2024-18-3-57-72

For citation:

Shubin V.V. Integrated Circuits Failures Caused by Electromigration and Antenna Effects. The Herald of the Siberian State University of Telecommunications and Information Science. 2024;18(3):57-72. (In Russ.) https://doi.org/10.55648/1998-6920-2024-18-3-57-72