Для цитирования:

Шубин В.В. Отказы интегральных схем, вызванные пробоем диэлектрика. Вестник СибГУТИ. 2023;17(2):69-83. https://doi.org/10.55648/1998-6920-2023-17-2-69-83

For citation:

Shubin V.V. Failures of ICs Caused by Dielectric Breakdown. The Herald of the Siberian State University of Telecommunications and Information Science. 2023;17(2):69-83. (In Russ.) https://doi.org/10.55648/1998-6920-2023-17-2-69-83